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HE-ZQ-5417蒸汽老化試驗箱的用途

更新時間:2024-12-28   點(diǎn)擊次數(shù):35次

一、設(shè)備用途:

    適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導(dǎo)體、精密組件、零件接腳氧化試驗.



二、主要技術(shù)參數(shù):

規(guī)格型號: HE-ZQ-5417

內(nèi)部尺寸: 500×400×170W×H×Dmm

外部尺寸: 600×500×420(W×H×D)mm

內(nèi)外箱材質(zhì): SUS304#優(yōu)質(zhì)不銹鋼板

控制功能: PID+SSR,數(shù)字式顯示

升溫時間: 大約40分鐘,

蒸氣溫度: 97

計時功能: 19999H/M/S,附時到報警功能,時間到達(dá)后切斷電源

水位控制: 低水位報警功能

電源: AC 220V±10% 50Hz 1.0KW


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